>仪器参数
仪器外观尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大样品腔:465mm*330mm*110mm |
半封闭样品腔(抽真空时):Φ150mm×高75mm |
仪器重量: 48Kg |
元素分析范围:Na11-U92钠到铀 |
可分析含量范围:1ppm- 99.99% |
探测器:AmpTek 超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器 |
探测器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV |
处理器类型:全数字化DP-5分析器 |
谱总通道数:4096道 |
X光管:高功率50瓦光管(原装进口管芯),冷却方式:硅脂冷却 |
光管窗口材料:铍窗 |
准直器:多达8种选择,最小0.2mm |
滤光片:7种滤光片的自由选择和切换 |
高压发生装置:原装美国高压,电压输出:0-50kV;输出电流:0-1mA |
高压参数:最小5kv可控调节,自带电压过载保护,输出精度:0.01% |
样品观察系统:500万像素高清CCD摄像头 |
电压:220ACV 50/60HZ |
环境温度:-10 °C 到35 °C |
仪器配置
>标准配置 |
>可选配置 |
纯Ag初始化标样 |
磨样机 |
真空泵 |
压片机 |
矿石专用样品杯 |
烘干箱 |
USB数据线 |
ESI-900型XRF专用全自动熔样机 |
电源线 |
电子秤 |
测试薄膜 |
矿石标准物质 |
仪器出厂和标定报告 |
交流净化稳压电源 |
保修卡 |
150目筛子 |
全新设计的XTEST分析软件
软件内核包括基本参数法(FP),经验系数法(EC),可轻松分析各类样品。
*光谱处理参数包括用于定义背景连续性,堆积峰和峰总和,平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量
*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正,即所有基质效应,增强和吸收。
*谱显示:峰定性,KLM标记,谱重叠比较,可同时显示多个光谱图
*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应,将光峰强度建模为高斯函数。
*可以使用纯基本参数方法,具有分散比的基本参数(对于包含大量低Z材料的样品)或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。
*基本参数分析可以基于单个多元素标准,多个标准或没有标准的样品。
铝土矿样品10次连续测试稳定性报告
样品 |
氧化镁 |
三氧化二铝 |
二氧化硅 |
氧化钾 |
氧化钙 |
二氧化钛 |
氧化锰 |
三氧化二铁 |
Sample-1 |
0.438 |
84.577 |
8.754 |
0.196 |
0.502 |
3.753 |
0.049 |
1.966 |
Sample-2 |
0.442 |
84.853 |
8.88 |
0.197 |
0.522 |
3.799 |
0.052 |
1.962 |
Sample-3 |
0.424 |
84.508 |
8.81 |
0.197 |
0.509 |
3.852 |
0.051 |
1.983 |
Sample-4 |
0.427 |
84.537 |
8.636 |
0.196 |
0.513 |
3.777 |
0.051 |
1.963 |
Sample-5 |
0.424 |
84.501 |
8.709 |
0.197 |
0.503 |
3.791 |
0.05 |
1.973 |
Sample-6 |
0.415 |
84.496 |
8.737 |
0.2 |
0.513 |
3.861 |
0.051 |
2.013 |
Sample-7 |
0.45 |
84.818 |
8.917 |
0.197 |
0.511 |
3.854 |
0.051 |
1.966 |
Sample-8 |
0.423 |
84.577 |
8.689 |
0.201 |
0.501 |
3.838 |
0.05 |
1.971 |
Sample-9 |
0.447 |
84.381 |
8.74 |
0.199 |
0.495 |
3.853 |
0.05 |
1.971 |
Sample-10 |
0.453 |
84.753 |
8.893 |
0.201 |
0.517 |
3.793 |
0.052 |
1.981 |
Average 平均值 |
0.434 |
84.6 |
8.776 |
0.198 |
0.509 |
3.817 |
0.051 |
1.975 |
Standard Deviation |
0.013 |
0.155 |
0.094 |
0.002 |
0.008 |
0.039 |
0.001 |
0.015 |
RSD |
3.10% |
0.18% |
1.08% |
0.97% |
1.63% |
1.02% |
1.91% |
0.76% |
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