单波长色散X射线荧光光谱仪
超低硅分析仪
产品型号：DUBHE-1430
世界上**一款能够准确检测汽油中硅含量的单波长色散X射线荧光光谱仪
汽油在炼制过程中使用了含硅的试剂或催化剂，这些硅化合物在汽车发动机中无法完全燃烧，时间一长硅的沉积物会造成氧气传感器失效等故障，因此汽油中硅元素的检测被列入国家标准制定范围之列。
针对硅元素的检测仪器，主要有ICP和XRF两种方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，无需专业经验人员即可操作使用，单波长色散X射线荧光光谱仪（MWD XRF）更具有高灵敏度以及长期稳定性等特点，是轻松应对超低硅含量分析的利器。
北京安科慧生科技有限公司依赖高通量双向曲面弯晶核心技术，进一步提升制造工艺，保证光路系统的精密度，成为世界上SJ真正能够将硅检出限降低到1PPM以内的X射线荧光光谱仪制造厂家。
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比较项
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ICP
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MWD XRF（DUBHE-1430）
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原理
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电感耦合等离子体发射光谱仪
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单波长色散X射线荧光光谱仪
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消耗
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高纯氩气、吹扫用高纯氮气、矩管，消耗约1000元/天
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无需钢瓶气体
样品杯与样品膜，消耗4元/样品
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结果准确性
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影响因素：气体纯度、燃烧充分性、光栅移动重复性、干扰元素共存谱线
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只针对硅元素进行高灵敏度检测，无任何元素谱线干扰
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操作方便性
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需要有经验的操作人员，对测试数据有解析能力
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使用方便，步骤简单，无需经验即可操作，操作者对测量结果无影响
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检出限
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硅方法检出限~0.15PPM
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硅方法检出限~0.6PPM
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ICP与MWD XRF（DUBHE-1430）比较表
测量原理：单波长色散X射线荧光光谱仪
Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）
符合标准：ASTM D7757
产品特点：
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灵敏：高选择性检测硅元素，检测限达到0.6PPM，是针对硅元素最灵敏的X射线荧光光谱仪
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稳定：XFS（X-Ray Fixed System）ZL技术，光路工厂精密调谐后，不再产生位移或偏 差，最大限度的保证了仪器的长期稳定性。5PPM汽油样品，长期测试RSD值小于7%
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快速：单个样品准备时间小于10秒钟；单个样品分析时间最长1000秒；开机10分钟内即可测试样品
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经济：单个样品消耗小于4元/样品，无气体、溶剂等消耗
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方便：使用ESP：Easy Sample Prepare装置，使得样品杯与膜成型变得简单；长时间使用无硬件更换；无需经常校正标准曲线
性能指标：
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检出限：0.6PPM（异辛烷基体中硅）
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准确度：2PPM±0.6PPM,5PPM±0.8PPM，10PPM±1PPM
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稳定性：5PPM标样连续测试15次，RSD值15%以内
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线性：0、1、2、5、10、50PPM硅标样，线性99.9%以上
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测试时间：500秒1000秒
应用领域：
汽油、柴油样品中硅含量分析，炼油企业催化剂中硅含量分析，液体或固体中硅含量分析。
