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X荧光测厚仪Thick800A
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X荧光测厚仪Thick800A

X荧光测厚仪Thick800A 核心参数 重复性 0.05% 分析元素 S-U检出限 1ppm 分辨率 最佳达149ev详细介绍仪器介绍 Thick800A是集

    X荧光测厚仪Thick800A 核心参数
     
    重复性 0.05% 分析元素 S-U
    检出限 1ppm 分辨率 最佳达149ev
    详细介绍
    仪器介绍
     
    Thick800A是集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
     
    性能特点
     
    满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
    φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
    高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
    采用高度定位激光,可自动定位测试高度
    定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
    鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
    高分辨率探头使分析结果更加jing准
    良好的射线屏蔽作用
    测试口高度敏感性传感器保护
     
    技术指标
     
    型号:Thick 800A
    元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
    一次可同时分析最多24个元素,五层镀层。
    分析含量一般为2ppm到99.9% 。
    镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
    任意多个可选择的分析和识别模型。
    相互独立的基体效应校正模型。
    多变量非线性回收程序
    度适应范围为15℃至30℃。
    电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
    仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
    重量:90 kg
     
    标准配置
     
    开放式样品腔。
    精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
    双激光定位装置。
    铅玻璃屏蔽罩。
    Si-Pin探测器。
    信号检测电子电路。
    高低压电源。
    X光管。
    高度传感器
    保护传感器
    计算机及喷墨打印机
     
    应用领域
     
    黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
    金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
    主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。