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XRF镀层测厚仪FT110A
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XRF镀层测厚仪FT110A

XRF镀层测厚仪FT110A 产品特点FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有

     

    XRF镀层测厚仪FT110A 产品特点
    FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合Z高标准。
    详细介绍
     
     
    产品介绍:
     
    FT110A | 台式XRF镀层测厚仪
    高通量镀层分析FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合最 高标准。准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足最 高的行业电镀规范。
     
     
    产品亮点
     
    专为高通量生产而设计,来看 FT110A 如何支持您的质量控制。
     
    强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果
     
    对成品安全的无损检测
     
    自动化功能提高生产力
     
    分析多达四层和基材,加上电镀液
     
    易于非专业操作员使用
     
    测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
     
    大样品舱可容纳各种样品
     
    可定制的选项以适合您的应用
     
     

    FT110A

    元素范围

    Ti – U

    探测器

    正比计数器系统

    样品舱设计

    开闭式或开槽式

    准直器数量

    2 或 4

    最 小准直器

    0.025 x 0.4 mm

    XY轴样品台选择

    程控或固定

    XY轴样品台行程

    250 x 200 mm

    程控Z轴行程

    150 mm

    最 大样品尺寸

    500 x 400 x 150 mm

    样品聚焦

    聚焦激光和可选的自动聚焦

    样品视图

    摄像头视图和可选的第二广角摄像头

    测量点识别

    可选

    软件

    X-ray Station