E8是一款专门RoHS检测仪器，其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。
1.1辐射防护
1.2多规格样品仓
1.3 X-Ray探测器
HeLeeX E8-SPR采用美国完整版（包括探头、前置放大器、主放大电路、数字多道分析器全部原装进口）原装进口一体式X-123半导体X射线探测器，其先进的半导体制冷技术，高峰背比（信噪比），超高计数率，优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点，超越其他品牌或同品牌的组装探测器。
1.4多种规格测试光斑
Ø HeLeeX E8-SPR采用模块化分体式X射线准直器专利技术，根据用户需求，可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm准直器。满足样品中不同大小点测试需求。
1.5小细节大智慧
RoHS检测仪器探测器
● 类型：X-123 Si-PIN探测器（采用原装进口高性能电致冷半导体探测器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶体面积：25mm2
● 最佳分辨率：145eV
RoHS检测仪器X射线管
● 电 压 ：0~50kV
● 最大电流 ：2.0mA
● 最大功率 ：50W
● 靶 材 ：Mo
● Be窗厚度 ：0.2mm
● 使用寿命 ：大于2万小时
● 外形尺寸 ：380 mm x 510mm x 365 mm （长x宽x高）
● 样品仓尺寸 ：360mm×330 mm ×50 mm （长x宽x高）
● 仪器重量 ：33.5kg
● 供电电源 ：AC220V/ 50Hz
● 最大功率 ：330W
● 工作温度 ：15-30℃
● 相对湿度 ：≤85%，不结露各种电子电器产品RoHS检测
●卤素检测
●镀层厚度分析
